Для оперативного анализа влажности широкого перечня зерновых и бобовых культур, семян, предназначен влагомер зерна РМ-450, а также продуктов их переработки на всех этапах, начиная с созревания зерновых в поле, при сборе урожая, в процессе хранения, вентилирования, сушки и перед реализацией потребителям.
Технические характеристики:
Метод измерения | емкостной |
Диапазон влажности в зависимости от культуры | 6~30 (40)% |
Точность | ±0.5% |
Диапазон измерения веса, г | 20~180 |
Объем анализируемой пробы, см³ | 240 |
Количество калибровок | 28 |
Корректировка калибровок | ✓ |
Подсчет среднего арифметического | ✓ |
Измерение веса образца | ✓ |
Автоматическое отключение | ✓ |
Индикация разряда | ✓ |
Температурная компенсация | Автоматическая |
Масса, кг | 1.5 |
Габаритные размеры,мм | 125×205×215 |
Источник питания | Батарейки AA – 4 шт. |
Дисплей | LCD |
Рабочий диапазон температур, ºC | 0~40 |
Принцип действия
Внутри измерительной камеры размещен центральный электрод. Это одна из “обкладок” условного конденсатора. Второй служит внутренняя поверхность цилиндра.
Диэлектрическая проницаемость зависит от температуры. Для гарантии точного определения влажности предусмотрена температурная компенсация при помощи термистора, автоматически вносящего поправку в результат. Также необходимы организационные подготовительные мероприятия. Разница между температурой прибора и анализируемой пробы не должна превышать 10 ºC. В противном случае стоит выждать не менее двух часов для выравнивания температур.
Влагомер PM-450 снабжен энергонезависимой памятью и при очередном включении, на дисплее высвечивается последний тип измеряемой культуры зерна. Если нужно его изменить, производится выбор из перечня продуктов.
Особенности замеров:
Жидкокристаллический дисплей отображает: цифровую кодировку и название выбранной культуры или полуфабриката, трехразрядный процент влажности, количество проведенных замеров, индикатор разряда, индикатор переполнения.
При засыпании образца, следует контролировать равномерность распределения верхнего слоя в горизонтальной плоскости для снижения погрешности.
Перечень анализируемых образцов